擺脫傳統分析繁瑣！日本理學光譜儀快速分析硫化礦

X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X 射線與物質產生的X射（shè）線熒光而進行的元素分析方法（fǎ） ，采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度 ， 從而實現定性和定量分析。X射（shè）線（xiàn）熒光光譜分析具有快（kuài）速、多元素（sù）分析、製樣簡（jiǎn）單（dān）、重（chóng）現性好、準確度高、非破壞性和對環境無汙染等（děng）特點 ， 被（bèi）廣泛應用於多領域的樣（yàng）品（pǐn）分析。硫化銅礦（kuàng）石作為（wéi）國家（jiā）戰略礦石之一，對其快速準確分析在開發利用方麵具有重要意義。

目前，礦（kuàng）物、礦石樣品傳統分析周期長，操作繁（fán）瑣，不適（shì）合（hé）日常快速分析的要求。開發了X射線熒光光譜法快（kuài）速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法， 實驗采用玻璃熔融法製備硫化銅礦樣品，在（zài）600℃下（xià）預氧化20min，使低價態的硫轉變為硫（liú）酸鹽，不僅避免了鉑金坩堝（guō）被腐蝕， 而且可以更好的測定以Cu和S為主的主量（liàng）元素的含量。該（gāi）方法（fǎ）為X射線熒光（guāng）分析法在（zài）硫化礦樣品分析領域的拓展提供了一套可借（jiè）鑒的分析程序（xù）， 有一定的實際（jì）應（yīng）用價值。隨著分析技（jì）術由整體分析向（xiàng）微區分析發展，地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發展，岩礦（kuàng）的分析研究已經由宏觀深入到更微觀的領域。

波長色散X射線熒光光譜儀（yí）

目前實驗室常規使用（yòng）的微區分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質譜和各類電子顯微鏡等（děng）。微區X射線熒（yíng）光光譜（pǔ）分析(Micro-XRF) 技術作為一種基（jī）於普通X射線熒光（guāng）的無損分析技術 ，是（shì）X射線光譜學領域的（de）重（chóng）要分支（zhī）， 可（kě）實（shí）現微米級（jí）微小區域內樣（yàng）品中多元素定性或定量分析，成為獲（huò）取樣品微區結構元素空間線掃描、麵掃描分布及時序性（xìng）信息（xī）的（de）有（yǒu）力工具。使用了台式能（néng）量色散X 射線熒（yíng）光儀，對氧化物組合標樣和礦物光片點掃描， 對31個礦物光片和塗有（yǒu）防曬霜的指紋樣品進（jìn）行麵掃描，5個金屬薄膜片點掃描。當樣品與聚焦點距離變化在 -20μm ～20μm時，激發出的 Fe、Cu、 Zn、S的強度（dù）值最大。

X射線熒光光譜分（fèn）析測定（dìng）金屬膜層的厚度，其測量值與實際（jì）值偏差不大。該儀器還可（kě）以獲取清（qīng）晰的以（yǐ）不同材料為（wéi）基底的指紋圖像，在玻璃（lí）基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區（qū）X射（shè）線熒光光譜無損分析可得到（dào）類似切割（gē）板的（de）多元素分布圖， 是（shì）分析元素分布規律的一種較快的方法，能快速測出金屬膜層（céng）的厚度，高效率提取指紋。

通過蘭（lán）坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦（kuàng）區帶（dài）典（diǎn）型礦山地（dì）區1:50000地質調查，采集雲龍縣的山（shān）坡、林（lín）地、草地等的土壤樣品400多件，用波長色散 能量色（sè）散複合型X射線熒光光譜儀測量土壤重金屬（shǔ）含量。得到土壤中重金（jīn）屬元素的平均值、中位（wèi）值等，發現Zn和（hé）Pb 元素含量的最大值點（diǎn）在同一位置點，在（zài）河庫旁幹涸處草地。Cu、Pb、Zn 、 As、Sb、Cd元素含量最大值的采樣點均在水流附近， 其中Cd 元素的最大值點位（wèi）於沘（bǐ）江附近，Cu、Pb、Zn、 As 、Sb、Cd等元素可能通過水流遷移。通過研究采礦區不同類型土壤表層中重元素的（de）含量和分布特征（zhēng）， 為調查礦區及周邊水文地質條件、礦山開采帶來的主（zhǔ）要環境地質問題提供依據。