實驗室必知！一文區（qū）分（fèn）X熒光光譜儀與火花（huā）直讀光譜儀

X熒光光譜儀（yí）與火花（huā）直讀光譜（pǔ）儀的區別和聯係

分析原理（lǐ）：

X熒光光譜分析儀是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元素（sù）的內層電子被激發打走，次內層電子回落到內層，同時產生（shēng）一個光子，這個光（guāng）子具有特定的頻率，與其他原子同樣（yàng）條件下產（chǎn）生的光子不同（tóng），儀（yí）器再經過（guò）光柵色散，把這一種元素產生（shēng）的單色光分離出來，再利用一個光電管，把這一種（zhǒng）光信號轉變為電信（xìn）號，這個電信號與試樣中被（bèi）測物質的含量成一定的比例關係。但是這（zhè）樣並不能獲得試樣中被測物質的含量，還必須與標準試樣在同樣條件下（xià）獲得的電（diàn）信號（hào）進行比較才（cái）能獲得試樣中被測物質的百分含量。

熒光光譜（pǔ）儀原理，當能量高於原子內層電子結（jié）合能（néng）的高能X射線與原子發生碰撞時（shí），驅逐（zhú）一（yī）個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體係處於不穩定的激發態，激發態原子壽命約為（10）-12-（10）-14s，然後自發地由能量高的狀態（tài）躍遷到（dào）能量低的狀態，這個過程稱為馳豫過程。馳豫（yù）過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨及在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子（zǐ），此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效（xiào）應，所逐出的（de）次級光電（diàn）子稱為俄歇電子。

熒光光譜儀產品特點

儀器是由計算機控（kòng）製，自動（dòng）化水（shuǐ）平高，分析速度快，它不需要像（xiàng）火花直讀（dú）光譜那樣（yàng）需要試樣具有導電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以（yǐ）同時完成多個（gè）被測元素或被測組分的百分含量（liàng），如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時完成。多數用戶的X熒光光譜分析儀隻是專門用來分（fèn）析精礦粉、石灰、青石（shí）、白雲石（shí）、爐渣、溶劑等不導（dǎo）電的試樣。同（tóng）時它也可以進行金屬材料（liào）等導電試樣的分析（xī）。其他特點與直讀光譜相同。

X射線熒（yíng）光直讀光譜儀可以分析粉末樣（yàng）品、熔融（róng）樣品、液（yè）體樣品、固體樣品等，非金屬或金屬都可以分析。

火花直（zhí）讀光譜儀隻能分析固體樣品，而且要（yào）求樣品是（shì）導（dǎo）電介質，簡單的說就是分析金屬固體樣品中的金屬或非金屬元素。

（日本理學波長色散X射線熒光光譜儀）

最後說說它們的精（jīng）度（分（fèn）析正確度）

除了ICP以外，直（zhí）讀光譜和X熒光都依靠標準樣品的（de）質量。如果，不能準備完（wán）全的標準樣品，不可能得到標準偏（piān）差。標準樣品是（shì）當然一（yī）定要沒有偏析，正確的標（biāo）準值。