日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IV

日本理學波長色散X射線熒（yíng）光光譜儀（yí），快速定量元素分析（xī）的高性能WDXRF！上照射式波（bō）長色散X射線熒光光譜儀ZSXPrimus IV，理學Primus IV提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標（biāo）準的廣（guǎng）泛樣（yàng）品類（lèi）型。高度可靠性（xìng）的上照射式光（guāng）學係（xì）統ZSXPrimus IV具有場新的上照（zhào）射（shè）式光（guāng）學（xué）配（pèi）置。用（yòng）戶再也不用擔心由於......

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日本理學波長色散X射線熒（yíng）光光（guāng）譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射式波長色散X射線熒光光譜（pǔ）儀

ZSX Primus IV
理學ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到（dào）鈾（yóu）（U）的最低標準的廣泛樣品類型。
高度可靠性的上照射式光學係（xì）統
ZSX Primus IV具有場新的上照（zhào）射式光學配置。用戶再也不（bú）用擔心由（yóu）於維護樣品室導致的路（lù）徑汙染或停止時間。上（shàng）照射（shè）式（shì）幾何結構消除了清掃的擔心並增加（jiā）了時間。

高精度樣品定（dìng）位
高精度樣品定（dìng）位確保了樣品（pǐn）表麵與X設吸納管之間的距離恒（héng）定。這對例如合（hé）金分析等需要高精度的應（yīng）用非常重要（yào）。ZSX Primus IV使用一個獨（dú）特的光學配置執行高精度分析，用於減少由於例如電熔銖和壓片等樣品中的非平麵表麵導（dǎo）致的錯誤（wù）。

SQX 基本參（cān）數軟件與EZ掃描軟件
用戶使用EZ掃（sǎo）描軟件可以在無需（xū）任何（hé）事先設置即可分析位置樣品。這個節（jiē）省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括（kuò）線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光（guāng）電子（輕、超輕元素）、變化的環境（jìng）、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助（zhù）的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提（tí）高準確性。

上照射式波長色散（sàn）X射線熒光光譜儀：
從O到U的元素分析
上照射式光（guāng）學最小化汙染
小占地麵積節省實驗室空間
高精度樣品定位
特殊光學減少由（yóu）於彎（wān）曲的樣品表麵造成的錯誤
統計過程控製（SPC）的軟件工具
優化抽空（kōng）和真空泄露率改善吞（tūn）吐量

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