日立X-Strata920 鍍層測厚（hòu）儀，台式XRF鍍層測（cè）厚儀

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 鍍層測厚儀，具有多（duō）種選擇，可容納多（duō）種（zhǒng）類型的樣品。該分析儀非常（cháng）適（shì）合測量各種（zhǒng）基材上的塗層，適合用於確定產品質量的電（diàn）子（zǐ）產（chǎn）品、連接器、裝飾品和（hé）珠（zhū）寶分析。

X-Strata920 的優勢在於其多功能性（xìng）。您（nín）可以從多種配置中進行選擇，包括（kuò）五種基本配置以適應不同尺寸的（de）樣品、六種（zhǒng）準直器尺寸用於優化分析不同尺寸的特征，以及有助於加快測量（liàng）過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易於使用，軟件直觀，可由非專業人員操作，並可輕鬆融入您的生產或質量保證部門。

最大化精度，最小化浪費

當（dāng）決定產品成敗的差異小於1微米時，請選（xuǎn）擇X-Strata920進行精確鍍層分析

如果您在電子產品或金屬表麵處理行業工作，我們可提（tí）供適於您業務的解（jiě）決方案。X-Strata920具有（yǒu）多（duō）種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合（hé）金層）。

我們的內部專家會對常規和複雜鍍層結構進行測試及測量，確保您獲得可靠、可重（chóng）複結果以滿（mǎn）足數百種應用，包括：PCB表麵處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表麵處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基台配置以適應任意形狀的零（líng）件。帶有標準或寬固定基台的開槽的（de）樣品艙（cāng）適合處理小型零件或（huò）長而薄的（de）樣品，而加深樣品艙則可靈（líng）活測量（liàng）較高的零件。選擇程控（kòng）樣品台，可自動測量多個樣品或（huò）單個組件上的（de）各個（gè）位置（zhì）。

為工作（zuò）選擇正確的工具

通過選擇比例（lì）計數器或矽漂移探（tàn）測器（qì）（SDD），可確保擁有正確配置（zhì）。

比例計數器適用於大多數應用場合，但對於含有少量種類元素的簡單鍍層結構（gòu）而言，其效果最佳。當您需要分析更複雜的鍍層結構或需要測量非常薄的鍍層（<0.05μm）時，推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色（sè）的工具可確保樣品符合規格，同時通過避免過度電鍍造成的化學品浪費和減少電鍍（dù）不足造成的廢料和返工來降低成本。操作員隻需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即

可（kě）顯示出來，然後操作員可快速執行下一個任（rèn）務。

這意味著您（nín）可確保在操作中最大限度地提高生產（chǎn）力。得益於通過可追溯（sù）標（biāo）準打造的優化校（xiào）準方式，您（nín）將對結果的準確性充滿信（xìn）心。

使用X-Strata920可遵從各種行業標準，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

產品亮點

X-Strata920 具有多種選（xuǎn）項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應性設計（jì），可對各種產品進行（háng）可靠分析

• 自動（dòng）對（duì）焦和可選的程控台提高了準（zhǔn）確性和速度

• 直觀的（de） SmartLink 軟件使測量和導出（chū）數據變得容易

• 多準直器設計（jì）為每個樣品提供高準確性

• 選（xuǎn）擇（zé）適合應用的比例計數器或矽漂移檢測器（qì） (SDD)

• 符合行（háng）業規範，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單的樣品加載和快速分析可在幾（jǐ）秒鍾內提供結果

• 強大的光學分析單層和多層鍍層，包括合（hé）金層