X射線熒光光（guāng）譜儀對硫化（huà）銅礦的樣品分析應用

X射線（xiàn）熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的（de）X射線熒光而進行的元素分析方法，采用探測（cè）器檢測特征X射線熒光的能量和強度，從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、製樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞（huài）性和對環境無汙染（rǎn）等（děng）特點，被廣泛應用於多領域的樣（yàng）品分析。硫化銅（tóng）礦石作為國家戰略礦石之一，對其快（kuài）速準確分析在開發利用方麵具有重要意義。

目前，礦物、礦（kuàng）石樣品傳（chuán）統分析周期長，操作繁瑣，不適合日常快速分析的要求。開（kāi）發了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法，實驗采用玻璃熔融法製備硫化銅礦樣品（pǐn），在600℃下預（yù）氧（yǎng）化20min，使低價態的硫轉變為硫酸鹽，不僅避（bì）免了鉑金坩堝被腐蝕，而且可以更好的測定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線（xiàn）熒光分析法在硫化礦樣品分析領域的（de）拓展提供（gòng）了一套可借鑒的分析程序（xù），有一定的（de）實際應用價值。隨著分析技術由整體分析向微區分析發展，地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發（fā）展，岩礦的分析研究已經由宏觀深（shēn）入（rù）到更微觀的領域。 

波長色散X射線熒光光譜（pǔ）儀 

目前實驗室常規使用的微區分析技術包括電子探針、激（jī）光（guāng）燒蝕等離子體質譜和各（gè）類電子顯微鏡等。微區X射線熒光（guāng）光譜分析(Micro-XRF)技術作為一種基於普通X射線（xiàn）熒（yíng）光的無損分析技（jì）術，是X射線光譜學（xué）領域的重要分支，可實現微米級微小區（qū）域內樣品中多元素（sù）定性或定量（liàng）分析，成為獲取樣品微區結構元素空間線掃描、麵掃描分布及時序（xù）性信（xìn）息（xī）的有力工具。使（shǐ）用了台式能量色散X射線熒光儀，對氧化物組合標樣和礦物光片點（diǎn）掃描，對31個礦物光片和塗有（yǒu）防曬霜的指紋樣品進（jìn）行麵掃描，5個金（jīn）屬薄（báo）膜片點掃描。當樣品（pǐn）與聚焦點距離變化在（zài）-20μm～20μm時，激發出（chū）的Fe、Cu、Zn、S的強度值最大。

（日本理學波長色散X射線熒光光譜（pǔ）儀）

X射線熒光光譜分析測定金屬膜層的厚度，其測量值與（yǔ）實（shí）際值偏差不大。該儀器（qì）還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像，在玻璃基底上獲取的指（zhǐ）紋紋理更清晰。微區（qū）X射線熒光光譜無損分析可得到類似切割板的多元（yuán）素分布圖，是分析元素分布規律的一種（zhǒng）較快（kuài）的方法，能快速測出金屬膜層的厚度（dù），高效率提取指紋。

通過蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦（kuàng）區帶典型礦（kuàng）山地區1:50000地質調查，采集雲龍縣（xiàn）的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多（duō）件，用波長色散-能（néng）量色散複合型X射線（xiàn）熒光光譜儀測（cè）量土壤重金屬含量。得到土壤中重金屬元素的平均值（zhí）、中位值等，發現Zn和（hé）Pb元素含量的最大值（zhí）點（diǎn）在同一位置點，在河庫旁幹涸處草地。Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd元素含量最大值的采樣點（diǎn）均在（zài）水流附近，其中Cd元素的最大值點位於（yú）沘江附近，Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd等元素可能通過水流遷移。通（tōng）過研究采礦（kuàng）區不同類型（xíng）土壤表層中重元素的含量和分布特征，為調查礦區及周邊水文地質條件、礦山開采帶（dài）來的主要環境（jìng）地質問題提供依（yī）據（jù）。