什麽類型光譜儀可以檢測珠寶玉（yù）石？

珠寶玉石檢測（cè）中（zhōng）的（de）X熒光（guāng）光譜法

當下珠（zhū）寶玉石行業， X熒光光譜法是珠寶玉石鑒定的主要手段之一。X射線熒光（guāng）光譜技術在樣品的（de）主要成分無損定量和定性分析上得到廣（guǎng）泛應用，成為貴金屬飾品檢測領域的重要手段（duàn）。X射線作為（wéi）一種電磁輻射，波長介於紫（zǐ）外線和射（shè）線之間，這種電磁輻射（shè）波長沒有嚴格的界限，隨著探測技術的發展，用X射線熒光光譜進行定量分析，已經成為了元素分析的重要手段。X熒光光譜法在當今珠寶玉石行業檢測中得到了廣泛應（yīng）用，這（zhè）一方法對寶石不會造成損傷，同時也能夠提高檢測效率。使用X射（shè）線照射被測物（wù），被測物激發出不同波長的熒光X射線（xiàn），用儀器對波長不（bú）同（tóng）的X射線進（jìn）行接收分離，從而判斷其中的組成元（yuán）素,對組成（chéng）元素含量具體分析，檢測出（chū）珠寶玉石是（shì）否是合成和有無經過優化處理等。X熒光光譜儀利用這一原理進行檢測，有能量色散型X熒光光譜儀、波長色散型X熒光光譜儀之分。

X熒光光譜法在珠寶（bǎo）玉石檢測中應（yīng）用廣泛，其主要優勢體現在分析速度、檢測對象、分析密度等多（duō）方麵（miàn）。X射線在珠寶玉石檢測中不會對珠寶玉石造（zào）成損壞，與其他檢測方式相比具有獨特的優勢，同時也是對檢測質量的有效保障。X熒光光譜儀分（fèn）析速度快，在整個珠寶玉石檢測（cè）上（shàng）僅僅需（xū）要幾分鍾就可以（yǐ）完成（chéng）對一件珠寶玉石元素含量的檢測，檢測速度極快，在實際珠寶檢測中體現出明顯的（de）效率（lǜ）優勢。X熒光光譜技術對檢測對（duì）象（xiàng）的形狀、形態等條（tiáo）件沒（méi）有局限性，X熒光光（guāng）譜儀在珠寶玉石檢測工作（zuò）中不會受寶石形狀、化學結合狀（zhuàng）態等條件影響，適用性廣（guǎng）泛。X熒光光譜技（jì）術在（zài）珠寶玉（yù）石（shí）檢測中的分析精密度極高（gāo），這是電磁輻射在（zài）珠寶玉石檢測中的優（yōu）勢，這種物理（lǐ）分析方法對檢測物（wù）中元素的化學性質分析有很高的效率，隨著現代科學技術的飛速發展，X熒光光（guāng）譜技術在珠寶玉石檢測領域（yù）的應用會在泛度和深度上得到更大發展。

X熒光（guāng）光譜儀在珠寶玉石檢測中的應用

X熒光光譜儀在珠（zhū）寶玉石檢測中的具體應（yīng）用主要有相似珠寶玉石鑒別（bié）、優化處理珠寶玉（yù）石鑒別、類（lèi）質同象珠寶（bǎo）玉石研究等幾（jǐ）個方麵，同時在珠寶玉石元素的方麵，從實際檢測數據分析中可以驗證X熒光光譜（pǔ）儀在珠寶玉（yù）石檢測（cè）上（shàng）的可行性，這對解決傳（chuán）統檢測手段無法測出一些珠寶玉石中的元素類別、含量等問題（tí）上有很大幫助。

X熒光光譜技術在珠寶玉（yù）石無損（sǔn）檢測上的高效率體現在相似珠寶玉石的鑒定上（shàng），從珠寶玉石的元素組成上對相似珠寶玉石進行鑒定和輔助分析。珠寶（bǎo）玉石（shí）原料（liào）種類較多（duō），存在性質相似的情況，傳統檢測手段很難有精準的檢測結果，一些原（yuán）料（liào）品種在外觀形態上很難區分，內部折射率和密度也極為相似（sì），在傳統檢測手段上存在較大難度，應用X熒光光（guāng）譜儀進行技術分析，對相似珠寶玉石的內部（bù）元素含量進（jìn）行更為精確（què）的分析，從X射線熒光光譜圖中可以很容（róng）易區分出來相似珠（zhū）寶玉石的不同之處。這一技術在鑒（jiàn）別紫晶和紫色方柱石等相似類型的寶石上有（yǒu）顯著的效率優勢。

X熒光光譜儀對當今珠寶玉（yù）石（shí）行業中優化處理技術下的寶（bǎo）石也（yě）有明（míng）顯優（yōu）勢（shì），對優化處理後的珠寶玉（yù）石進行技術分析，鑒別天然寶（bǎo）石和人工合成技術下的（de）成品，現代優化處理技術下出現的高仿珠寶玉石成（chéng）品流入珠寶玉石市場，很容易迷惑（huò）消費者。因此通過X熒光（guāng）光譜儀對優化處理技術產生的人工合成品進行鑒別，能夠幫助消費者識別優化處理珠寶（bǎo）玉石與天然寶石。珠寶玉石（shí）中的紅寶石人工合成製作過（guò）程中采（cǎi）用鉛玻璃填充方法（fǎ），其效果與天然紅寶石相似性較高（gāo），X熒光光譜儀能夠分辨出兩（liǎng）者之間的差異性，人工合成品中明顯的鉛元素在X熒光光譜儀中能夠較容易鑒別出來與天然紅寶石的細微不（bú）同之處。寶石優化處理技術在X熒光光譜儀應用於珠寶玉石檢測後能夠更容易鑒別出來，同時X熒光光（guāng）譜儀在輔助分（fèn）析（xī）、鑒別合成翡（fěi）翠、珍珠等珠寶玉石方麵也有著明顯優勢。

X熒光光譜儀（yí）在珠寶玉石檢測中的應用還體現在類質同象珠寶玉石方麵上，類（lèi）質同象在珠（zhū）寶玉石檢測中主要是晶（jīng）體結構中的離子、原子等結構類型上的線性變化現象，在這一現象的檢（jiǎn）測研究上確定（dìng）珠寶玉石中類質（zhì）同象係列的名稱，能夠（gòu）有效提升珠寶玉石（shí）檢測的效率和質量，這一過程中X熒（yíng）光光譜儀的應（yīng）用有著重要作用，珠寶玉石中（zhōng）的元素分析和含（hán）量（liàng）統計（jì）分析（xī）為類質同象珠寶玉石的準（zhǔn）確性檢測體提（tí）供了有效的數（shù）據幫助。X熒光光譜儀隨著X射線熒光光（guāng）譜技術的發（fā）展不斷發展完善，在珠（zhū）寶玉石鑒定領域依（yī）靠技術手（shǒu）段（duàn）提高檢測的效率，不僅適用於以上幾種珠寶玉石檢測情況，隨著未來科學技術水平的（de）不斷提高，珠寶玉石行（háng）業的發展（zhǎn）也會不斷出現新的發展方向。

1.高度可（kě）靠性的上（shàng）照射式光學係統
ZSX Primus IV具有場新的上照射式光學配置。用（yòng）戶再也不用（yòng）擔心由於維護樣品室導致的路徑汙（wū）染或停止時間。上照射式幾何（hé）結構消除了清掃的擔心並增加了時間。

2.高精（jīng）度樣品定位
高精度（dù）樣品（pǐn）定位（wèi）確保了樣品表麵與X設吸（xī）納管之間的距離恒（héng）定。這對（duì）例如合金分（fèn）析等需要高精度的（de）應用非常重要。ZSX Primus IV使用一個獨特（tè）的光學配置執行高精度分析，用（yòng）於減少由於例（lì）如電（diàn）熔銖和壓片等樣品中的非平麵表（biǎo）麵導致的錯誤。

3.SQX 基本參數軟件與EZ掃描軟件

用戶（hù）使用EZ掃描軟（ruǎn）件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特（tè）征僅（jǐn）需點擊鼠標和輸入樣品（pǐn）名稱。結合SQX基本參數軟件，快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效（xiào）果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸（cùn）校（xiào）正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。