在
波長色（sè）散X射線熒（yíng）光光譜儀在（zài）金屬（shǔ）元素的測定（dìng）分析已經是應（yīng）用非常的成熟具有典型（xíng）的用戶及實驗配套方（fāng）案。其中，在塗層方（fāng）麵的檢測也（yě）有很好的應用，如塗料（liào）紙上的塗料中（zhōng）有線狀異物，用CCD定點分析可以不破壞（huài）樣品得知（zhī）其組成成分。CCD定點分析是利用儀器的內置CCD相機和樣品台驅動裝置，指定樣品（pǐn）表麵任意位置，進行定性或定量（liàng）分析，這是
X射線（xiàn）熒光光譜儀ZSX係列（liè）新添加的功能（néng）。另外，在（zài）此介紹如何使（shǐ）用樣品台驅（qū）動裝（zhuāng）置（zhì）對檢測出的組成成分進行元素分布分析（xī）。
波長色散X射線熒光光譜儀對塗層中元素（sù）的定點（diǎn）分析示（shì）例
操作部分
一、分析儀器（qì）
二、樣品（pǐn）製備 將塗層樣品直接放入專用托架（jià）待測（cè）。
三、測試條件（jiàn）
四、測試結果 儀器內置CCD相（xiàng）機拍攝的樣品表麵圖象如下（xià）圖所示。根據圖象，可以確認在中央部位有（yǒu）線狀異物（wù）混雜在塗層中（zhōng）。
CCD合成圖象
首先指定線狀異物部分，空白的塗層部分及塗料紙，將分析麵積（jī）設定在1mm範圍內進行定性分析。由Cu-K可見很大的差別。然後，可確認塗層的（de）成分是Ti和Fe，塗料紙的成分是Al,Si和Ca。
異物部分（fèn）(蘭色)和塗層部分(紅色)的定性圖表
根據定性分析結果得到（dào）的成（chéng）分組（zǔ）成進行元素分布分析。由於進行（háng）元素分布分析時使用樣品台驅（qū）動裝置，所以樣品可以直接移動到分析點，能夠不改變與分辨率有關的光學（xué）係統（tǒng）進行穩定的測試（shì）。根（gēn）據（jù）元素分布分析結果推斷，樣品中混有銅絲。
根據各部（bù）分代表成分的元素分布圖象
五、總結 日本理學波（bō）長（zhǎng）色散型X射線熒光分析法和電子分析法不同，譜峰不受充電（diàn）的影響，不需要特殊的樣品製備。另外，與電子分析相比，熒光X射線的穿透（tòu）力強，可以分析厚塗層下（xià）的成分，在塗層應用提供用力的幫助，提高生產質量，帶動工（gōng）廠利益的提升。
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