一文告訴你選（xuǎn）擇日本理學波長色散型熒光光譜儀4大原因

日本理學波長色散性x射線（xiàn）熒光光譜儀(WD-XRF ，簡稱理（lǐ）學波譜)一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測係統等（děng）組成。為了準確測量衍射光束（shù）與入射光束的夾角，分光晶體係安裝在 -一個精（jīng）密的（de）測（cè）角儀上，還需要龐大而精密並複雜的機械運動裝置。由（yóu）於晶（jīng）體（tǐ）的衍射，造成強度的損失，要求作（zuò）為（wéi）光（guāng）源的X射（shè）線管的功率要大，一般為（wéi）2~3千瓦。但 X射線管的效率極低，隻有1%的電功率轉化為X射線輻射功率（lǜ），大部分電能均轉（zhuǎn）化為熱能產生高溫（wēn），所以 X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或（huò）油冷)，因此 波譜儀的價格往往比能譜儀高。

能量色散型熒光光譜儀(DE-XRF)，一般由（yóu）光源(X-射（shè）線管)、樣品室和檢測係統等組成，與（yǔ）波長色散型熒光光儀的（de）區別在於它（tā）不用分光晶體。由於（yú）這一特（tè）點，使能量色散型熒光光儀具（jù）有以下的優（yōu）點（diǎn）  ：

1、儀器（qì）結構簡單，省略了晶體的精密運動裝置，也（yě）無需精確調整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源（yuán）使用的X射線管功率（lǜ）低，一般在100W以下（xià），不（bú）需要（yào）昂貴的高壓發生器（qì）和冷卻係統，空氣冷卻即可，節省電力。

2、能量色散形熒光光（guāng）儀的光源、樣品、檢（jiǎn）測器彼此靠得很近，X射線的利用率很高，不需光學聚集，在累積整個光譜時，對樣品位置變化不（bú）象（xiàng）波長色散型熒光光（guāng）儀那樣敏感，對樣（yàng）品（pǐn）形狀也（yě）無（wú）特殊要求。

3、在能量色散譜儀（yí）中，樣品發出（chū）的全部特征X射線光子同時進入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和（hé）熒光屏同（tóng）時累積和顯示全部能譜(包括背景 )的基礎，也（yě）能清楚地（dì）表明背景（jǐng）和幹擾線。因此，半導體檢測器X射線光譜儀能比（bǐ）晶（jīng）體X射線光譜儀快而方便地完成（chéng）定性分析工作。

4、能量色散法的一個附帶優點是（shì）測量整個分析線（xiàn）脈衝高度分布的積分（fèn）程度，而不是峰頂強度。因此，減小了化（huà）學狀態引起的分析線波（bō）長（zhǎng）的漂移影響。由於同時累積還減小了（le）儀器的（de）漂（piāo）移影響，提高淨計數的統（tǒng）計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時（shí）累積觀察和測量所有元素（sù），而不是按特定（dìng）譜（pǔ）線分析（xī）特定元（yuán）素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可（kě）能性。

看了以上四大特點的介紹是否已經對日本理學X射（shè）線熒光光（guāng）譜儀有了一定的了解。