廣州www.17c嫩嫩草色在线精密科學儀器股份有限公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜,波譜(pǔ)不(bú)限於材料的形狀,應(yīng)用多(duō)領域金屬元素的測定分析。本文章簡單(dān)介紹(shào)
日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對岩石樣品(pǐn)的定點分析及(jí)麵掃描分析,為礦石領域對岩石(shí)測定分析提供寶貴經驗。
使用儀器分析(xī)室內置的相(xiàng)機將岩石樣品中需要關注的測量範圍(wéi)放(fàng)大後進行了分析。
紅框內擴大了的範圍由(yóu)右圖表示。
可以更(gèng)精密地指定測量位置。
麵掃3描分析結果
微區測繪
測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和(hé)數據(圖、測(cè)量(liàng)數據)來表示。圖示種(zhǒng)類(lèi)有不同模式,可以采用有效的圖示。
各測量點的Mg-Kα的譜線比較
SQX方法做的定點分析結果
γ-θ樣品台徹(chè)底解決了X射(shè)線照射(shè)不均以(yǐ)及分光(guāng)晶體反射強度不均的問題,保證樣品在X射(shè)線最強、最佳(jiā)條件下測量。
測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平台分辦率為100μm,實(shí)現了快速精確的點、線、麵分析。